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論文

光ファイバの長時間照射試験、III

森田洋右; 平尾敏雄; 川上和市郎

EIM-87-129, p.53 - 65, 1987/00

光ファイバが放射線照射下で実際に使用される環境は低線量率(~100R/n)、長時間であることが多く、光ファイバがこのような環境下でどのような損失増加挙動を示すかを知ることは重要である。本研究は、低OH及び高OH純石英コア・光ファイバ、シングルモード光ファイバの $^{60}$ Co-線照射下での損失増加の線量率依存性、従来あまり研究されていない/300~1600nm帯の照射損失増加について調べた。